隨著3C產(chǎn)品越來越緊湊,外觀要求越來越高,特別是蘋果掀起的對產(chǎn)品外觀的超高品質(zhì)要求,因此對電子產(chǎn)品成品以及不同模組組裝之間的間隙和段差的提出更高的尺寸控制要求。但材料本身的不同特性和組合后的不同特征會給測量造成很大困擾,如玻璃材料的邊緣倒角的成像,玻璃和金屬粘合后的縫隙內(nèi)部有膠條干擾,這些都會提升成像及后期處理的難度,因此需要針對不同細(xì)節(jié)要求定制專業(yè)的成像方案,包括特殊設(shè)計光源、組合光源分開曝光、大景深鏡頭以及多樣豐富的測量工具和算法等,通過2D和3D相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)高精度的縫隙gap和offset測量及成品的外觀尺寸測量。
采用穹頂光設(shè)計,結(jié)合紅色光源對金屬表面的成像亮度增強(qiáng),可以有效識別縫兩邊的真實(shí)邊緣。
光學(xué)方案能有效的去除麥拉(主要用于粘合前后蓋板)對測量結(jié)果的干擾;
整體方案采用飛拍,機(jī)器人以600mm/s的速度從縫寬測量處掠過,需要選用高亮光源以及對應(yīng)的光源控制器,整體曝光時間<30μs。
NoteBook上料存在一定的誤差,另外攝像頭模組在屏幕下方,需要系統(tǒng)具備比較大的景深,整體景深范圍>2mm。
在空間限制的情況下,運(yùn)用平面反射鏡鏡增加對接縫處特定角度的光照度,增加整體的亮度。
系統(tǒng)需要配合靶標(biāo)標(biāo)定與畸變校正,靶標(biāo)測量精度高于5μm,人工OMM測量偏差高于15μm。